用平行平晶或量块同时测量千分尺的平行度 结果不同应如何处理？

对于千分尺测量面的平行度，规程规定可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定。用平行平晶检定时，在读取干涉条纹及计算过程中产生的误差都很小；另外，能测量到千分尺的整个测量面，锁紧装置坚固前后的变化比较清楚，所以用平行平晶测出的结果比较准确。用量块检定千分尺测量平行度，压测量1/4区域，它反映的是3/4区域平行度。另外，从微分筒上读数误差比较大，最少为1μm。再则，锁紧装置紧固前后的变化也反映不出来。所以用量块检定千分尺测量面平行度精度比较低。故此，时常出现用量块检定千分尺平行度合格，而用平行平晶检定千分尺平行度就不合格。对此，我们建议处理的意见为：新制的和修理后的千分尺测量面平行度检定以平行平晶检定结果为准，使用中的千分尺测量面平行度检定以量块检定结果为准。如果是0级千分尺，不论是新制的、修理后的或使用中的，都必须以平行平晶检定结果为准。